1、PD基本工作原理
光电检测过程的基本原理是受激光吸收。如果半导体的PN结受到光照时,且入射光能量大于或等于半导体材料的禁带宽度Eg时,光子就会释放它的能量,并把电子由价带激发到导带而产生光生载流子,即电子 —空穴对。在PN结区施加反向电压的情况下,凡是能扩散到PN结构电场范围(耗尽层)内的载流子都参加定向运动,受激吸收过程生成的空穴和电子在电场的作用下分别流向 P区和N区。从而在外电路形成光生电流。当入射功率变化时,光生电流也随之变化,从而把光信号转成电信号。
2、分类
PIN光电二极管;
当光照射到PIN光电二极管的光敏面上时,会在整个耗尽区(高场区)及耗尽区附近产生受激辐射现象,从而产生电子空穴对。
PIN-Transimpedance ( PIN-TIA);
PINTIA其典型电路原理如下,在PIN的基础上增加了电流放大电路,比PIN有着更好的低噪音和暗电流,灵敏度也优于PIN
5PIN 另有PINTIA TO封装有五管脚可测试DD ,用于数字诊断模块中
雪崩光电二极管(APD);
雪崩光电二极管应用光生载流子在其耗尽区(高场区)内的碰撞电离效应而获得光生电流的雪崩倍增。
其典型电路如下与PINTIAN 不同是其有五个管脚,多出一个高压脚Vpd APD成本较高,大多应用于高速率,长距离,高灵敏度要求的光电接收组件。
3、PN光电检测器的常用工作特性
⑴响应度R (Responsivity)
在一定波长的光照射下,光电检测器的平均输出电流与入射的平均光功率之比称为响应度(或响应率)。它描述了单位光功率产生的光生电流的大小。响应度可以表示如下:
通常测试条件如下:25℃环境温度,100uW入射光功率;1.310um 或1.550um;5V反偏压
⑵量子效率
响应度是器件在外部电路中呈现的宏观灵敏特性,而量子效率是器件在内部呈现的微观灵敏特性。量子效率定义为通过结区的载流子数与入射的光子数之比,常用符号η表示:
⑶暗电流I(dm):
暗电流是指在规定反向电压下,无入射光情况下器件内部产生的反向电流。
⑷APD的倍增因子
APD的电流增益,即平均倍增因子M可表示为:
M=Ip/Ipo 式中:Ip为APD倍增后的光生电流;Ip0是未倍增时的原始光生电流。
⑸响应速度
光电二极管的响应速度是指它的光电转换速度。
⑹光电检测器的噪声
光电检测器的噪声包括量子噪声、暗电流噪声和由倍增过程产生的倍增噪声。
PhotoDiode (PD)
Parameter |
Symbol |
Value |
Value |
Value |
Value |
Unit |
Test Condition |
||||||||
Active Area(Dia.) |
|
55 |
75 |
100 |
300 |
µm |
— |
||||||||
|
|
Min. |
Typ |
Max. |
Min. |
Typ |
Max. |
Min. |
Typ |
Max. |
Min. |
Typ |
Max. |
|
|
Detection Range |
|
1100 |
1310 |
1650 |
1100 |
1310 |
1650 |
1100 |
1310 |
1650 |
1100 |
1310 |
1650 |
nm |
— |
Responsivity |
R |
0.75 |
0.8 |
— |
0.8 |
0.85 |
— |
0.8 |
0.85 |
— |
0.8 |
0.85 |
— |
A/W |
VR=5V,λ=1310nm |
Dark Current |
Idark |
|
|
0.7 |
|
0.4 |
0.8 |
|
0.5 |
2 |
|
2 |
5 |
nA |
VR=5V |
Capacitance |
C |
|
|
0.7 |
|
0.7 |
0.9 |
|
0.9 |
1.3 |
|
6 |
10 |
pF |
VR=5V |
Rise/Fall Time |
Tr / Tf |
|
|
0.3 |
|
|
0.3 |
|
|
0.5 |
— |
1 |
— |
ns |
VR=5V,10%~90% |
Bandwidth |
BW |
3 |
|
|
2 |
|
|
1.5 |
|
|
0.5 |
|
|
GHz |
VR=5V |
4、PINTIAN测试原理图
耦合及测试时,给测试板通电,根据需要选择发光模块的波长,调节衰减器使LD光功率控制在-30~-40dBm左右,将另一路光接在 PINTIAN管芯上,给PINTIAN管脚供电,将PINTAI两个数据管脚接到示波器上查看波形,使波形输出最好,幅度最大,清晰。
APD耦合测试时原理 同PINTAI 只是需要给 Vpd脚高压供电。
PIN测试原理图 与PINTIAN基本连接相同,只是不需要给发射光加入信号,同时测试时就不需要示波器,测试条件参照 PIN响应度测试